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SpectroSense2 冠層光譜測量系統
更新時間:2017-07-12
訪問次數:3026
測量冠層、地表等地物的不同波譜段光譜,反映地表反射、輻射光的真實情況,可用來研究不同地物表面的光譜特征,及隨著時間變化被測地物光譜的變化特征。用戶選擇不同波段的傳感器可以用于計算NDVI,解析衛(wèi)星遙感圖像等。

一、用途:

    測量冠層、地表等地物的不同波譜段光譜,反映地表反射、輻射光的真實情況,可用來研究不同地物表面的光譜特征,及隨著時間變化被測地物光譜的變化特征。用戶選擇不同波段的傳感器可以用于計算NDVI,解析衛(wèi)星遙感圖像等。

二、原理:

    同時利用不同波段光傳感器測量被測物的反射、輻射光譜值,利用數據采集器和相應的處理軟件記錄、計算被測物的光譜特性。

三、系統組成: 

   該系統一般由以下及部分組成:

·主機系統:手持式數據采集器
·支架
·傳感器平衡指示器
·用戶選定的不同波段帶寬的傳感器(用戶可以根據需要進行定制,傳感器符合英國國家標準,有校正和響應曲線)
·可選的各種光傳感器:如PAR, 紅外/遠紅外,總輻射,LUX,UVA,UVB(以上所有傳感器均符合英國國家標準,有校正和響應曲線)

四、基本技術指標:

    ·精度:0.008% at 20C for mid rang
    ·存儲:1000個讀數或存滿覆蓋模式
    ·電池:60個小時
    ·供電:1個9伏電池

五、產地:英國

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